CX-117A晶振测试仪
一 、主要功能： 频率自校、频率测量、PPm测量、周期测量、数据累计、功能设定
二、主要技术指标：
频率测量范围： 0.1Hz — 100MHz
频率测量灵敏度：30mv
PPm测量：3KHz — 100MHz
PPm测量：≤1 PPm （1×10-6）
（可扩展0.1PPm ， 0.01 PPm）
中心频率：0 Hz — 100 MHz任意设定
误差设置范围设定：± 1 — ± 999 PPm任意设定。
闸门设置：四档 ，0.01s、 0.1s、1s三档固定，
1档闸门1ms — 10s可设，
每1mS为一阶梯任意设定。
周期测量范围：100 ms — 10 s
晶振稳定性：5 ×10-7 / 日
（可选 1 ×10-7/ 日，1 ×10-8 / 日）
时基频率：OCXO--10MC
三、特点：
微机控制，可编程器件开发， 模块化设计
100MHz同步等测量方式
SMT贴装生产、工艺，全新小型化结构设计
9位LED显示
PPm提示功能
四、可选配：
晶体测量匹配器：32.768KHz-20MHz 、20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz、65MHz-100MHz .
注：仪器配置
CX-117A晶体测试仪/PPm 1台
连接电缆 2 根
电源线 1根
匹配器32.768KHz ～ 20MHz 1个
保险丝 2个
说明书 1份
合格证 1个
TEL:0755-23702758
FAX:0755-23702756
24H服务电话：
13631576199